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    1. 如何檢測(cè)孩子智力

      目前國際上廣泛應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)化的智力測(cè)驗(yàn)方法有:

      第1、格塞爾發(fā)展量表,適用于4~6歲的兒童,該量表是一種診斷量表,得到的結(jié)果叫做發(fā)育商,如果發(fā)育商低于75就要考慮智力低下。

      第2、丹佛發(fā)育篩選測(cè)驗(yàn)和丹佛發(fā)育篩查問卷,適用于0~6歲兒童的智能篩查,此量表方便省時(shí),其效果與診斷量表有較高的一致性,運(yùn)用率較高。

      第3、繪人試驗(yàn),該試驗(yàn)工具簡(jiǎn)單,指導(dǎo)語言明確,能進(jìn)行集體測(cè)驗(yàn),是一種比較好的智力篩查方法,適用于5~12歲兒童。

      第4、斯坦福―比奈智力量表,適用于2~18歲兒童,但是此表在國內(nèi)應(yīng)用相對(duì)較少。

      第5、韋克斯勒智力量表,適用于6~16歲兒童。

      以上內(nèi)容僅供參考

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